x荧光镀层测厚仪,x射线荧光镀层测厚仪,镀金镀层测厚仪,镀银层测厚仪

本产品能同时测量磁性基材表面(如钢和铁)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电镀涂层(如油漆等)。本仪表内置高精密一体化探头,同时运用电磁感应和涡流效应两种原理,自动检测基材属性并探测涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准,让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单,确保您非常容易的使用它。
  塑料制品工业镀层、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
  exf镀层测厚仪是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
合金通常由两种或两种以上的金属或金属与非金属经一定方法所合成的,具有金属特性的物质。合金在理化指标一般都表现出由于纯金属的特性,大多具备硬度大、耐腐蚀、抗氧化性等特性,故在实际生产,生活的材料应用中大多数使用合金材料。在合金生产和使用过程中,我们均需要对牌号进行甄别,以便于对生产、使用和品质的管理。
 天瑞仪器xrf合金分析解决方案,利用x射线激发元素特征能谱,并对特征能谱进行侦测的原理,真正实现了对合金材料的高效,快速,无损的检验。 并且该系统解决方案中的光谱分析仪配备了多种类型的牌号库,在元素鉴别的同时,即对合金的牌号进行了相应判断。 应用范围 各种牌号识别、合金成分分析(钛合金、铜合金、镁铝合金、硬质合金)、贵金属分析等。

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